X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成。X射线管产生入射X射线，激发被测样品，产生X荧光，探测器对X荧光进行检测，其分析速度快，精密度高。关于
X荧光光谱仪的常见分析对象你了解吗？
X荧光光谱分析分析范围很广，可从Be-U,而且对分析试样的物理状态不作要求，像固体、粉末、晶体、非晶体都可作为试验对象。也不受元素的化学状态的影响。重要的是它属于物理过程中的非破损性分析，是一种试样不发生化学变化的无损分析方法。它还可以对均匀试样进行表面的分析。
X荧光光谱分析被应用于很多领域，比如地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空、航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等领域的材料化学成分分析，它的直接分析对象有以下几种:
1、固体
A.块状样品(规则不规则)，比如：钢铁，有色行业纯金属或多元合金、金饰品等；
B.线状样品,包括线材,可以直接测量；
C.钻削,不规则样品可以直接测；
2、粉末
矿物陶瓷水泥(生料、熟料、原材料成品等；泥土、粉末、冶金、铁合金或少量稀松粉末,可以直接测量，亦可以压片测量或制成玻璃熔珠。
3、稀土
